數顯薄膜測(ce)厚儀  CHY-U

適(shi)用于(yu)2mm范圍(wei)內各種硬(ying)質和軟質材料厚度精(jing)確測(ce)量。

數顯薄膜測厚儀 產品應用(yong)

薄(bo)膜   塑料復合膜   紙張   片材   金屬片

技術特征

★微電(dian)腦控制、大液晶顯示(shi)

★專業高精(jing)度傳感(gan)器，保證(zheng)了測試(shi)誤差

★嚴格(ge)按照標(biao)準設計的接觸面積(ji)和測(ce)量(liang)壓(ya)力(li)，同時支持各種非標(biao)定制

★測量頭(tou)自動升降(jiang)，避免了人為(wei)因(yin)素(su)造成的系統誤差(cha)

★手動、自動雙重測(ce)量模式，更方便客戶選擇

★配(pei)備微型打印機，數據實時(shi)顯(xian)示、自(zi)動統計、打印，方(fang)便快(kuai)捷地獲取測試(shi)結果

★打印zui大(da)值、zui小值、平均值及每次(ci)測量結果，方便(bian)用(yong)戶分析數(shu)據

★儀器自動保存zui多(duo)100組測(ce)試結果，隨時查(cha)看(kan)并打(da)印

★標(biao)準(zhun)量塊標(biao)定,方便用戶快(kuai)速標(biao)定設(she)備

★專業(ye)電(dian)腦測試軟件(jian)，直觀表示測試差異

測試原理

機械接(jie)(jie)觸(chu)式(shi)測試(shi)(shi)原理，截取一定(ding)尺寸(cun)試(shi)(shi)樣，測量頭自動降(jiang)落于試(shi)(shi)樣之上，在一定(ding)壓(ya)力和一定(ding)接(jie)(jie)觸(chu)面(mian)積下測試(shi)(shi)出試(shi)(shi)樣的厚度值。

技(ji)術參數

測量范圍：0-2mm（其他量程可定制）

分(fen)辨率(lv)：0.1um

測量速度：10次/min（可調(diao)）

測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙(zhi)張）

接觸(chu)面(mian)積：50mm²（薄膜），200mm²（紙張） 注(zhu)：薄膜(mo)、紙張任選一種

機器尺寸：450mm×340mm×390mm (長寬高)

重量：23Kg

環境要求

環境溫度：15℃-50℃（無(wu)震動(dong)，無(wu)電磁干擾）

相對(dui)濕度(du)：zui高80%，無凝(ning)露(lu)

工作電源：220V      50Hz

標    準

GB/T6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTMD1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JISZ1702、BS 3983、BS 4817

配    置(zhi)

標(biao)準配置：主機、標(biao)準量塊、微(wei)型打印機

選用配(pei)置：測試軟件、通信(xin)電纜、測量頭、配(pei)重(zhong)砝碼、自動進樣器

更多詳情，請咨詢濟南三泉中石實驗儀器有限公司業務部，
：，， :（王海燕）