真空衰減法無損檢漏儀

簡要描(miao)述(shu)：真空衰(shuai)減(jian)法無(wu)損檢(jian)漏儀(yi)LEAK-S是濟南三泉中石(shi)實驗儀(yi)器(qi)新(xin)(xin)設計研發(fa)的(de)新(xin)(xin)型無(wu)損包裝密(mi)封(feng)(feng)性檢(jian)測(ce)儀(yi)器(qi)，適用(yong)于產品(pin)包裝，尤其是成品(pin)包裝進行無(wu)損密(mi)封(feng)(feng)性檢(jian)測(ce)。儀(yi)器(qi)采用(yong)真空衰(shuai)減(jian)法測(ce)試(shi)原理，*無(wu)損檢(jian)測(ce)技術，對樣(yang)(yang)品(pin)進行密(mi)封(feng)(feng)性檢(jian)測(ce)，檢(jian)測(ce)后的(de)試(shi)樣(yang)(yang)、樣(yang)(yang)品(pin)仍(reng)然(ran)可以正常使用(yong)。

產品型號：

所屬(shu)分類：微滲(shen)漏測試儀(yi)

更新時間：2023-05-30

廠商性質：生產廠家

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詳情(qing)介紹

真空衰減法無損檢漏儀LEAK-S是濟南三(san)泉中(zhong)石(shi)實驗儀(yi)器新設(she)計研發(fa)的(de)新型無損(sun)包(bao)裝(zhuang)密封(feng)性(xing)檢測儀(yi)器，適用(yong)于產品(pin)包(bao)裝(zhuang)，尤其是成品(pin)包(bao)裝(zhuang)進(jin)行(xing)無損(sun)密封(feng)性(xing)檢測。儀(yi)器采(cai)用(yong)真空(kong)衰減(jian)法測試原理(li)，*無損(sun)檢測技術，對樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)密封(feng)性(xing)檢測，檢測后的(de)試樣(yang)、樣(yang)品(pin)仍(reng)然(ran)可以正常使用(yong)。

LEAK-S微泄漏密封性測(ce)試(shi)儀滿足ASTM F2338《使用(yong)真空衰變法無損(sun)檢驗包裝緊密性的(de)(de)(de)標準試(shi)驗方法》、USP 1207等標準，針對不(bu)同檢測(ce)樣(yang)品可選配(pei)對應的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)腔，并(bing)且試(shi)驗結束后，儀器(qi)自動給出合格(ge)與(yu)不(bu)合格(ge)的(de)(de)(de)判斷，無需人工參與(yu)，確保數據的(de)(de)(de)準確性與(yu)客觀(guan)性。除此(ci)之外，儀器(qi)支持局(ju)域網傳輸，具備在線升級功(gong)能(neng)，可滿足客戶的(de)(de)(de)個性化需求。

<strong>真空衰減法無損檢漏儀</strong>

真空衰減法(fa)測試原理

微泄漏密封性測試儀LEAK-S對測試腔進(jin)行抽真(zhen)空，包裝(zhuang)物內外形(xing)成(cheng)壓力(li)差，在壓力(li)的(de)作用下包裝(zhuang)物內氣體通過漏孔擴散至測試腔內，雙傳感器技術檢測時(shi)間(jian)和(he)壓力(li)的(de)變化(hua)關系，與標(biao)準值（建立的(de)數學模型）進(jin)行比較，從而判斷試樣是(shi)否泄(xie)漏。

技術(shu)參(can)數

真空度：0--100kPa

檢測(ce)孔(kong)徑精(jing)度(du)：＜5μm

設備操(cao)作：自(zi)帶HMI

內部壓力：常壓

測試(shi)系統：真空傳感器技術

真(zhen)空來源：外接(jie)真(zhen)空泵

測試腔(qiang)：根據樣品定做

檢(jian)測(ce)原理：真空衰減(jian)法/無損檢(jian)測(ce)

主(zhu)機尺寸：500mmX360mmX320mm（長寬高）

重量：18Kg

環境溫度：20℃-30℃