CCIT真空衰減法密封檢漏儀

CCIT，英文全稱為Container Closure Integrity Test，又稱容(rong)器密封性(xing)，顧名思義(yi)就是檢查容(rong)器（內包材）的密封性(xing)（完整性(xing)，泄漏情況）。

容器密封性測(ce)試方法(fa)

容器密封性測試分為物理的（Physical CCIT）和微生物測試（Microbial CCIT）。測試方法包括常見的亞甲基藍染色，色水法，真空衰減，激光，微生物侵入法等等。方法選擇時，需考慮各種因素，如包裝本身、包裝內容物、密封組件的匹配、方法本身的特點、檢出限等。

濟(ji)南三泉(quan)中石(shi)實(shi)驗儀器(qi)研發生產的(de)CCIT密封性測試儀LEAK-S采用真(zhen)空衰減法(fa)(fa)(fa)原(yuan)理，基于雙傳(chuan)感技術，采用非破壞性檢測方法(fa)(fa)(fa)對成(cheng)品包(bao)裝進行泄漏檢測，測試后樣品無損傷不影(ying)響正常使用，測試成(cheng)本低，產品包(bao)裝完成(cheng)完整性試驗之后仍然可以(yi)正常使用，滿(man)足ASTM F2338《使用真(zhen)空衰變法(fa)(fa)(fa)無損檢驗包(bao)裝緊密性的標準試驗方法(fa)(fa)(fa)》、USP 1207等。

測試原理(li)

將CCIT密封性測(ce)試儀主機連接(jie)到一(yi)個特別(bie)設計用來容(rong)納(na)需(xu)要被(bei)測(ce)物(wu)的測(ce)試腔內(nei)。儀器對測(ce)試腔進行(xing)抽真空，包裝物(wu)內(nei)外形成壓力差，在(zai)壓力的作(zuo)用下包裝物(wu)內(nei)氣體通(tong)過(guo)漏孔擴(kuo)散至測(ce)試腔內(nei)，雙傳感器技術檢測(ce)時間(jian)和壓力的變化關系，與標準(zhun)值(zhi)（建立的數學(xue)模型）進行(xing)比(bi)較，從而判斷(duan)試樣是否泄漏。

技術參(can)數

真空度：0--100kPa

檢測(ce)孔徑精度：＜5μm

設(she)備操(cao)作：自帶HMI

內部壓力：常壓

測試系統：真空傳(chuan)感器技(ji)術(shu)

真空來(lai)源：外接真空泵

測試(shi)腔：根據樣品(pin)定(ding)做

檢(jian)測(ce)原理：真空衰減法(fa)/無損檢(jian)測(ce)

主機尺寸：500mmX360mmX320mm（長寬高）

重    量(liang)：18Kg

環境溫度：20℃-30℃

相對濕度：≤80%,無凝(ning)露(lu)

工(gong)作電源：220V

技術特(te)征

1、CCIT密封性測(ce)試儀針(zhen)對不同檢(jian)測(ce)樣品(pin)可選配對應(ying)的測(ce)試腔，用戶(hu)可輕(qing)松更換，在滿足更多種類樣品(pin)的情況(kuang)下(xia)，盡(jin)量減少用戶(hu)費用開支，使儀器具備要有較好的檢(jian)測(ce)適(shi)應(ying)性；

2、適用于檢測微小(xiao)漏孔，也可(ke)以鑒(jian)別(bie)大漏孔樣品，并給(gei)出(chu)合格(ge)與不合格(ge)的判斷(duan)；

3、采(cai)用(yong)(yong)非破(po)壞性(xing)檢(jian)測(ce)方(fang)法對成品(pin)包裝(zhuang)進行泄漏檢(jian)測(ce)，測(ce)試后樣(yang)品(pin)無(wu)損傷(shang)不影響正常使(shi)用(yong)(yong)，測(ce)試成本低；

4、測試結果非主觀性(xing)判斷，無需(xu)人(ren)工參與，保證數據(ju)準確(que)性(xing)與客(ke)觀性(xing)；

5、儀器(qi)配備R232串(chuan)口(kou)，支持(chi)數據局域網傳(chuan)輸，并具備ISP在線升級功能，滿(man)足客戶個(ge)性化要求(qiu)。

CCIT真空衰減法密封檢漏儀