鍍鋁膜厚度測量儀
簡要描述:鍍鋁膜厚度測量儀真空(kong)鍍主要(yao)包括真空(kong)蒸鍍、濺射鍍和(he)離子鍍幾種(zhong)類型,它們(men)都(dou)是采用在真空(kong)條件下,通過蒸餾(liu)或濺射等方(fang)式在塑件表面沉積各種(zhong)金(jin)屬和(he)非金(jin)屬薄膜,通過這樣的(de)方(fang)式可以得到非常薄的(de)表面鍍層,同(tong)時具有速度(du)快附著力好的(de)突出(chu)優點(dian)。
產品型號:
所(suo)屬分類:薄(bo)膜測(ce)厚(hou)儀
更新時間:2023-05-31
廠商性質:生產廠家
鍍鋁膜厚度測量儀
真空鍍(du)主要包括真空蒸(zheng)鍍(du)、濺射鍍(du)和離子鍍(du)幾種類型,它們(men)都(dou)是(shi)采用在真空(kong)條件(jian)下,通過(guo)蒸餾(liu)或濺射等方式在塑件(jian)表面沉(chen)積各種金(jin)屬和(he)非金(jin)屬薄膜(mo),通過(guo)這樣的(de)方式可(ke)以得到非常薄的(de)表面鍍(du)層,同(tong)時(shi)具有(you)速度快附(fu)著力(li)好的(de)突(tu)出優點。
由于真空(kong)鍍(du)鋁(lv)薄膜上的(de)鍍(du)鋁(lv)層非常(chang)薄,因此(ci)不能(neng)用常(chang)規的(de)測厚儀(yi)器檢(jian)測其厚度。由包裝產品質量監督(du)檢驗(yan)中心(xin)(濟南)和濟南(nan)三泉中(zhong)石起(qi)草的《 GB/T 15717-2001真(zhen)空金屬鍍層厚(hou)度(du)測試方(fang)法--電阻法》于2021年頒布(bu),詳(xiang)細介(jie)紹了(le)如何檢測絕緣軟基材表(biao)面的真空金屬(shu)鍍層厚度的測試方法。
電(dian)阻法(fa)檢測鍍鋁層的厚度用表面(mian)電(dian)阻來表示,單位是Ω/□,數值越大說明鍍(du)鋁層厚度越薄,一(yi)般真空(kong)鍍(du)鋁薄膜(mo)的表(biao)面電阻值為1.0-2.5Ω/□。其(qi)(qi)試驗原理:試樣金屬(shu)鍍(du)層為一(yi)段(duan)金屬(shu)導體,依據歐姆定(ding)(ding)律測量規(gui)定(ding)(ding)長度和寬度試樣的(de)金屬(shu)鍍(du)層電(dian)(dian)阻值,以方(fang)塊電(dian)(dian)阻表示金屬(shu)鍍(du)層的(de)厚度或直接計算其(qi)(qi)厚度。標(biao)準中對(dui)真空金屬(shu)鍍(du)層厚度測量裝置也進行了(le)明確規(gui)定(ding)(ding),要求電(dian)(dian)阻測量誤差不(bu)大于(yu)士1%, 裝置(zhi)的測量寬度不(bu)小于(yu)100m m,兩測量頭間(jian)的距離精度為±0.10mm。
為此(ci)濟南三(san)泉中石(shi)實(shi)驗儀(yi)器有限公司(si)研(yan)發了DMT-E金屬鍍層測厚儀,依據《GB/T 15717-1995 真空金(jin)屬鍍層厚度測試方法--電(dian)阻法》制(zhi)造(zao)而成,采(cai)用(yong)高精度接觸式(shi)測(ce)量,具備溫度補(bu)償功能,數據實時顯示(shi)、自動統計,配(pei)備的微型打印(yin)機可快速打印(yin)出結果顯示方塊電阻值、厚度值、均勻度等相(xiang)關數(shu)據。
滿足各大企業(ye)(ye)、質(zhi)監所及(ji)相關檢測(ce)機構對(dui)絕緣軟基材表面的(de)真空金屬鍍層(ceng)厚度(du)測(ce)量的(de)需求。為包裝行業(ye)(ye)檢測(ce)產品質(zhi)量提供有力(li)技術(shu)支持,也是目前國內實驗儀器(qi)行業(ye)(ye)的(de)一(yi)大跨越(yue)。
技術參(can)數
厚度測量范圍(wei) 厚度50-570?
方塊電阻(zu)測(ce)量范圍 0.5-5Ω
方塊電阻測量誤差 ±1%
樣品尺寸 100×100mm
夾樣精度(du) ±0.1mm
測溫范圍 0~50℃,精度(du)±1℃
外形尺寸 370mm×330mm×450mm (長寬高)
重 量 19kg
工(gong)作溫度 23℃±2℃
相(xiang)對濕(shi)度 80%,無(wu)凝露
工(gong)作電源 220V 50Hz
鍍鋁膜厚度測量儀
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