標準分(fen)類中，薄膜厚度的測量涉(she)及(ji)到分(fen)析化(hua)學(xue)、長度和角度測量、罐、聽(ting)、管、無損檢測、涂料和清漆、非(fei)金屬礦。

 在中(zhong)國標(biao)準(zhun)分類中(zhong)，薄膜(mo)厚(hou)度的測量涉及到工業技術玻璃、材(cai)(cai)料(liao)防護、包裝材(cai)(cai)料(liao)與容器(qi)、金屬理化(hua)性能試驗方法綜(zong)合、金屬無損檢驗方法、長(chang)度計(ji)量、涂料(liao)、建(jian)材(cai)(cai)原料(liao)礦。

薄膜厚度測量儀

 濟南三泉中石實驗儀器有限公司根據相關標準研發生產了薄膜厚度測量儀CHY-U, 適用薄膜、電池隔膜、太陽能電池硅片、紙張、膠帶、箔片、硅片等各種材料的厚度測量，是一款超高測試誤差的全自動測厚儀，測厚儀被廣泛應用于質檢機構、薄膜生產廠家、光伏廠等單位。

   薄膜厚度測厚儀原理：

  采用機械(xie)接觸式測(ce)試(shi)原理(li)，截(jie)取一定尺(chi)寸試(shi)樣，測(ce)厚(hou)儀測(ce)量頭(tou)自動降落于(yu)試(shi)樣之(zhi)上，依(yi)靠(kao)固(gu)定的(de)(de)壓(ya)力和固(gu)定的(de)(de)接觸面積下(xia)測(ce)試(shi)出試(shi)樣的(de)(de)厚(hou)度值(zhi)，嚴格符合標準要求，有效保證了測(ce)試(shi)的(de)(de)規范性(xing)和準確性(xing)。

   薄膜厚度測厚儀不僅用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度測量，還用于以下厚度測量：
   

  （1）對金屬箔片等硬質材料厚度測量；
  （2）接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值；
  （3）通過調節測量頭可完整紙張規定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測試；

     薄膜測厚儀的技術優勢：
     1、微電腦控制、大液晶顯示
     2、專業高精度傳感器，保證了測試誤差
     3、嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持 各種非標定制
     4、測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統誤差
     5、手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇
     6、配備微型打印機，數據實時顯示、自動統計、打印， 方便快捷地獲取測試結果
     7、打印zui大值、zui小值、平均值及每次測量結果，方便 用戶分析數據
     8、儀器自動保存zui多100組測試結果，隨時查看并打印
     9、標準量塊標定,方便用戶快速標定設備
     10、測厚儀配備自動進樣器，可一鍵實現全自動多點測量，人為誤差zui小
     11、專業軟件提供測試結果圖形統計分析，準確直觀地將 測試結果展示給用戶
 ;    12、配備標準RS232接口，方便系統與電腦的外部連接和 數據傳輸

    塑料包裝材(cai)料厚度(du)(du)是否均勻，是檢(jian)測(ce)其各項性(xing)能(neng)的(de)基礎。包裝材(cai)料厚度(du)(du)不均勻，會(hui)影響(xiang)到材(cai)料的(de)阻隔性(xing)能(neng)、拉伸(shen)強度(du)(du)等性(xing)能(neng)；對材(cai)料厚度(du)(du)實施高(gao)精度(du)(du)控制也是確保(bao)質(zhi)量與控制成(cheng)本(ben)的(de)重要手段(duan)，采用(yong)濟南三(san)泉中石研發生(sheng)產的(de)薄膜測(ce)厚儀CHY-U有利于(yu)提(ti)高(gao)產品的(de)質(zhi)量。