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GB/T15717包裝(zhuang)用(yong)鍍(du)鋁(lv)薄膜(mo)鍍(du)層厚度測量儀根(gen)據國家標準GB/T 15717《真空(kong)金屬鍍(du)層厚度測試方法---電阻法》設計，適(shi)用(yong)于測試鍍(du)鋁(lv)薄膜(mo)鋁(lv)層的厚度。

BB/T 0030-2004包裝用(yong)鍍鋁(lv)薄膜鋁(lv)層厚度(du)(du)測(ce)試(shi)儀(yi)符合中華人民共和國包裝行(xing)業(ye)標(biao)準，專業(ye)測(ce)試(shi)鍍鋁(lv)薄膜的厚度(du)(du)。

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層(ceng)厚度檢(jian)測儀符合BB/T0030《包裝用鍍鋁薄膜》中相關要(yao)求，其中鍍鋁薄膜鍍鋁層(ceng)厚度遵循GB/T15717中真(zhen)空(kong)金屬鍍層(ceng)厚度測試方(fang)法（電阻(zu)法）中鍍厚度要(yao)求。