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真空(kong)金屬鍍鋁(lv)(lv)膜厚度(du)測(ce)試(shi)儀可以測(ce)試(shi)鍍鋁(lv)(lv)層(ceng)的均勻度(du)，厚度(du)及電阻(zu)值(zhi)，并*具(ju)有溫度(du)補償功(gong)能，大液晶屏顯示，自帶(dai)微型打印機，隨時打印測(ce)試(shi)數據。

食品用鋁(lv)箔(bo)紙鍍鋁(lv)層(ceng)厚度/均勻度測試儀符合(he)國(guo)標GB/T15717《真空金屬鍍層(ceng)厚度測試方法 電(dian)阻法》中相關要(yao)求。

食品級(ji)口(kou)香糖內襯紙鍍(du)鋁(lv)層測厚(hou)儀符合國家標(biao)準(zhun)GB/T15717，專(zhuan)業(ye)測試(shi)各(ge)種(zhong)鍍(du)鋁(lv)層厚(hou)度。

煙(yan)包(bao)內(nei)襯紙(zhi)鍍鋁層測厚儀主(zhu)要測試煙(yan)包(bao)中(zhong)銀色內(nei)襯紙(zhi)鍍鋁層厚度值(zhi)。

真空金屬鍍鋁(lv)層(ceng)均(jun)勻度(du)|電阻(zu)值(zhi)(zhi)厚度(du)儀(yi)符合國標GB/T15717，可(ke)測試(shi)真空金屬鍍鋁(lv)層(ceng)均(jun)勻度(du)及(ji)電阻(zu)值(zhi)(zhi)，還可(ke)以測試(shi)鍍鋁(lv)層(ceng)厚度(du)值(zhi)(zhi)。