食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測試儀 DMT-E

由(you)于真(zhen)空(kong)鍍(du)鋁(lv)薄(bo)膜上(shang)的鍍(du)鋁(lv)層(ceng)非(fei)常(chang)薄(bo)，因此(ci)不(bu)能用常(chang)規(gui)的測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)器檢(jian)(jian)測(ce)(ce)其(qi)厚(hou)度。由(you)國(guo)家包裝產品質量監(jian)督檢(jian)(jian)驗(yan)中心(濟南)起(qi)草的《 GB/T 15717-1995真(zhen)空(kong)金屬鍍(du)層(ceng)厚(hou)度測(ce)(ce)試(shi)方法(fa)--電(dian)阻(zu)法(fa)》于1996年頒布，詳細介(jie)紹了如何(he)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)絕緣(yuan)軟基材表面(mian)(mian)的真(zhen)空(kong)金屬鍍(du)層(ceng)厚(hou)度的測(ce)(ce)試(shi)方法(fa)。電(dian)阻(zu)法(fa)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)鍍(du)鋁(lv)層(ceng)的厚(hou)度用表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)來表示，單位是Ω/□，數值(zhi)越大(da)說明鍍(du)鋁(lv)層(ceng)厚(hou)度越薄(bo)，一(yi)般真(zhen)空(kong)鍍(du)鋁(lv)薄(bo)膜的表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)值(zhi)為1.0－2.5Ω/□。

食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測試儀 測試原理：
鋁是導電金屬，通過測試規定面積內試樣的電阻值，和一定溫度下的鋁的導電率，計算出試樣的鍍鋁層厚度。

 儀器試驗步驟
1.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在GB2918規定的23±2℃.，45%-55%RH環境中放置4h后測量。
2.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭。
3.將試樣平放在測量儀的橡膠板上，使測量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測量前儀器必須校零。
5.測量試樣的電阻值。
測試的實驗結果自動顯示打印金屬鍍層的方塊電阻、金屬鍍層厚度和均勻度。

檢測產品

主要參數
厚度測量范圍：厚度50-570?   
方塊電阻測量范圍：0.5-10Ω
方塊電阻測量誤差：±1%
樣品尺寸：100×100mm
夾樣誤差：±0.1mm
測溫范圍：0～50℃，精度±1℃
外形尺寸：370mm×330mm×450mm （長寬高）
重量：19kg

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