包裝用鍍(du)(du)鋁薄膜鍍(du)(du)鋁層(ceng)厚(hou)度檢測儀(yi)(yi)|鍍(du)(du)鋁層(ceng)厚(hou)度測試儀(yi)(yi)DMT-E

包(bao)裝用鍍鋁(lv)薄(bo)膜(mo)，在復合包(bao)裝中的(de)應(ying)用十(shi)分廣(guang)泛，主要應(ying)用于餅(bing)干等干燥、膨化(hua)食品包(bao)裝以(yi)及一些醫藥(yao)、化(hua)妝品的(de)外包(bao)裝上。目前(qian)應(ying)用zui多的(de)鍍鋁(lv)薄(bo)膜(mo)主要有聚酯鍍鋁(lv)膜(mo)（VMPET）和(he)CPP 鍍鋁(lv)膜(mo)（VMCPP）。

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測儀 依據標準：

GB/T 15717《真空(kong)金屬鍍層(ceng)厚度測試方法(fa)---電(dian)阻法(fa)》

BB/T0030-2004 《包裝(zhuang)用(yong)鍍鋁薄膜》

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測儀測試原理：

試樣(yang)金屬鍍(du)層為(wei)一金屬導(dao)體，根據歐(ou)姆定律測量規(gui)定長(chang)度和寬度的試樣(yang)的電(dian)阻(zu)值，計算(suan)其方塊電(dian)阻(zu)值，從(cong)而(er)得出鍍(du)層厚度。

 包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測儀

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測儀 測試方法：

依(yi)據國家(jia)包裝產(chan)品質(zhi)量(liang)監督(du)檢驗(yan)中心（濟南）起草的《 GB/T 15717-1995真空金(jin)屬鍍(du)層(ceng)厚(hou)度測(ce)試方(fang)(fang)法--電(dian)(dian)阻(zu)法》于(yu)1996年頒布(bu)，詳細介紹了如何檢測(ce)絕緣軟基材表(biao)面(mian)的真空金(jin)屬鍍(du)層(ceng)厚(hou)度的測(ce)試方(fang)(fang)法。電(dian)(dian)阻(zu)法檢測(ce)鍍(du)鋁(lv)(lv)層(ceng)的厚(hou)度用表(biao)面(mian)電(dian)(dian)阻(zu)來表(biao)示，單位是(shi)Ω/□，數值越(yue)大說明鍍(du)鋁(lv)(lv)層(ceng)厚(hou)度越(yue)薄(bo)，一般真空鍍(du)鋁(lv)(lv)薄(bo)膜的表(biao)面(mian)電(dian)(dian)阻(zu)值為1.0－2.5Ω/□。

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測儀 主要參數
厚度測量范圍：厚度50-570?   
方塊電阻測量范圍：0.5-10Ω
方塊電阻測量誤差：±1%
樣品尺寸：100×100mm
夾樣誤差：±0.1mm
測溫范圍：0～50℃，精度±1℃
外形尺寸：370mm×330mm×450mm （長寬高）
重量：19kg

更多(duo)詳情，那個咨詢濟南三(san)泉中石業務部王海燕，，.