微泄漏密封性測試儀-數據可追溯

發布時間： 2024-01-04　　點擊次數： 25次

微泄漏密封性測試(shi)儀(yi)-數據(ju)可追溯

真空衰減法是一種無損、定量的(de)檢測非多(duo)孔(kong)(kong)、剛(gang)性或柔(rou)性包裝泄(xie)漏的(de)方法(fa)。具(ju)有多(duo)孔(kong)(kong)成分的(de)包裝，例(li)如(ru)具(ju)有多(duo)孔(kong)(kong)蓋材料(liao)的(de)托盤，也(ye)可以通過掩(yan)蔽多(duo)孔(kong)(kong)包裝成分的(de)真空(kong)衰減來(lai)測試。

為(wei)了進行測(ce)(ce)試(shi)，首先將測(ce)(ce)試(shi)樣品(pin)放(fang)置在與泄漏測(ce)(ce)試(shi)系統氣(qi)動(dong)連接(jie)的(de)緊(jin)密配合(he)的(de)排(pai)放(fang)測(ce)(ce)試(shi)室中，泄漏測(ce)(ce)試(shi)系統配備有(you)(you)外部(bu)真空(kong)源(yuan)。測(ce)(ce)試(shi)室必(bi)須設計成包含測(ce)(ce)試(shi)包。帶(dai)有(you)(you)可移動(dong)或柔性部(bu)件的(de)測(ce)(ce)試(shi)樣品(pin)需(xu)要(yao)適當的(de)工(gong)具來分別限制(zhi)這些部(bu)件的(de)移動(dong)或膨(peng)脹。具有(you)(you)多孔組分的(de)樣品(pin)需(xu)要(yao)掩蔽(bi)多孔材料。在測(ce)(ce)試(shi)開始時(shi)，將測(ce)(ce)試(shi)室加(jia)上(shang)測(ce)(ce)試(shi)系統死區排(pai)空(kong)一段預定的(de)時(shi)間(jian)。

測(ce)試(shi)所(suo)選擇(ze)的(de)目標真(zhen)空(kong)度是根據評估的(de)測(ce)試(shi)樣(yang)本(ben)類型(xing)預先(xian)確(que)定的(de)。然(ran)后將真(zhen)空(kong)源與測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)隔離。

在短暫(zan)系(xi)統平衡之后，使用絕對或差(cha)壓傳(chuan)感器在預定的時間長(chang)度內監測腔體內壓(ya)力的上(shang)升(即，真(zhen)空(kong)衰減)。超過使用負控制建(jian)立的(de)預定通過/失(shi)效極限的壓力增加表明(ming)容(rong)器泄漏。可參考(kao)ASTM F2338。 ;

應用

1. 可測試無孔、剛性(xing)或柔性(xing)包裝，或具(ju)有多孔部件的包裝。

2. 可以測試包(bao)含(han)氣體(ti)(ti)、液體(ti)(ti)和/或(huo)固(gu)體(ti)(ti)材料(liao)的(de)(de)(de)(de)包裝(zhuang)(zhuang)：當暴露于(yu)測試(shi)真空(kong)條件時(shi)，具有非固(gu)定部件的(de)(de)(de)(de)柔(rou)性包裝(zhuang)(zhuang)或(huo)包裝(zhuang)(zhuang)需要工具來分別限制包裝(zhuang)(zhuang)的(de)(de)(de)(de)膨脹或(huo)移動。工具化使柔(rou)性封裝(zhuang)(zhuang)密封應力最小化，并保持在泄漏(lou)路(lu)徑(jing)上(shang)的(de)(de)(de)(de)一致的(de)(de)(de)(de)封裝(zhuang)(zhuang)體(ti)(ti)積(ji)和壓差條件。

帶有多孔成(cheng)分的(de)包裝可以(yi)通過使用特殊工具或(huo)阻(zu)塞(sai)輔(fu)助物來(lai)掩蔽多孔成(cheng)分來(lai)測(ce)試(shi)，以(yi)使穿過多孔成(cheng)分的(de)氣(qi)流最小化。氣(qi)體頂空必須在大(da)氣(qi)壓(ya)(ya)下或(huo)在顯(xian)著(zhu)大(da)于測(ce)試(shi)真空條(tiao)件的(de)壓(ya)(ya)力(li)下。