桶裝薯片(pian)包裝的鋁(lv)箔層厚(hou)(hou)度(du)檢測(ce)方(fang)案(an)三(san)泉中石(shi)金(jin)屬鍍層測(ce)厚(hou)(hou)儀

摘要(yao)：塑料薄(bo)膜或紙張(zhang)表(biao)面(mian)（單面(mian)或雙(shuang)面(mian)）鍍上一(yi)層極薄(bo)的金屬(shu)鋁即成為鍍鋁薄(bo)膜，它廣泛地(di)用(yong)來代替鋁箔(bo)復合材(cai)料如鋁箔(bo)/塑料、鋁箔(bo)/紙等使用(yong)。隨著科技的發(fa)展真空蒸鍍金屬(shu)薄(bo)膜的使用(yong)越來越廣泛，主要(yao)用(yong)于(yu)風(feng)味食品(pin)、農產品(pin)的真空包(bao)裝，以及藥品(pin)、化妝品(pin)、香(xiang)煙(yan)的包(bao)裝。另外，鍍鋁薄(bo)膜也大量用(yong)作印刷中(zhong)的燙金材(cai)料和商標標簽材(cai)料等。

關鍵(jian)詞：鍍(du)(du)鋁(lv)薄膜 鋁(lv)箔層厚度(du) 金屬鍍(du)(du)層測厚儀

一(yi).意義：包裝(zhuang)(zhuang)中的(de)鋁箔(bo)層(ceng)可以起到(dao)(dao)避光、防潮的(de)作用，而鋁箔(bo)層(ceng)的(de)厚度和(he)均(jun)勻度直接影(ying)響到(dao)(dao)其具備的(de)優良(liang)性能(neng)，降低氣密性，減少保(bao)質期，從(cong)而影(ying)響到(dao)(dao)包裝(zhuang)(zhuang)內容物的(de)產品(pin)質量(liang)，進而影(ying)響到(dao)(dao)產品(pin)的(de)品(pin)質。

二.檢測方法：電阻法。根據R=ρL/S（R電阻、S截面積、L長度、ρ電阻率）可知(zhi)L=RS/ρ，從而間接(jie)測(ce)出(chu)金屬鍍層的(de)厚度。

三.試(shi)驗樣品：桶裝薯(shu)片的(de)外包裝

三(san)泉中(zhong)石(shi)金屬鍍(du)層測厚(hou)儀檢測樣品

四(si).試(shi)驗設備：三泉(quan)中(zhong)石金屬鍍(du)層測厚(hou)儀(yi)DMT-E

三泉中石(shi)金屬鍍(du)層測厚儀(yi)DMT-E

五(wu).試(shi)驗過程：

1.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在GB2918規定的23±2℃.，45%-55%RH環境中放置4h后測量。
2.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭。
3.將試樣平放在測量儀的橡膠板上，使測量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測量前儀器必須校零。
5.測量試樣的電阻值。

六.試驗結(jie)果：測(ce)試的實驗結(jie)果自動顯(xian)示打印金屬(shu)(shu)鍍層的方塊電阻、金屬(shu)(shu)鍍層厚度和均勻度。

七.總(zong)結：由于真空(kong)鍍(du)鋁(lv)(lv)薄(bo)膜上的鍍(du)鋁(lv)(lv)層(ceng)非常(chang)薄(bo)，因(yin)此(ci)不能用常(chang)規的測(ce)厚儀器(qi)檢測(ce)其厚度。數值越大說明鍍(du)鋁(lv)(lv)層(ceng)厚度越薄(bo)，一般真空(kong)鍍(du)鋁(lv)(lv)薄(bo)膜的表面電阻值為1.0－2.5Ω/□。 ;