鍍鋁層厚度測試儀
簡要描述:鍍(du)鋁(lv)層(ceng)厚(hou)度測(ce)試儀符(fu)合BB/T0030《包(bao)裝用鍍(du)鋁(lv)薄膜(mo)》中(zhong)相關要求(qiu),其中(zhong)鍍(du)鋁(lv)薄膜(mo)鍍(du)鋁(lv)層(ceng)厚(hou)度遵(zun)循GB/T15717中(zhong)真空(kong)金屬鍍(du)層(ceng)厚(hou)度測(ce)試方(fang)法(電阻法)中(zhong)鍍(du)厚(hou)度要求(qiu)。
產品型號:
所屬分類:鍍鋁層(ceng)厚度測試(shi)儀
更新(xin)時(shi)間:2023-05-27
廠商性質:生產廠家
包(bao)裝用(yong)鍍(du)鋁薄(bo)膜,在(zai)復(fu)合包(bao)裝中(zhong)的應(ying)(ying)用(yong)十分廣泛,主要(yao)(yao)應(ying)(ying)用(yong)于餅干等干燥(zao)、膨化食品包(bao)裝以及(ji)一些(xie)醫藥、化妝品的外包(bao)裝上。目(mu)前(qian)應(ying)(ying)用(yong)zui多(duo)的鍍(du)鋁薄(bo)膜主要(yao)(yao)有(you)聚酯(zhi)鍍(du)鋁膜(VMPET)和CPP 鍍(du)鋁膜(VMCPP)。
鍍鋁層厚度測試儀依據標準:
GB/T 15717《真空金屬鍍層厚度(du)測試方法(fa)---電阻法(fa)》
BB/T0030-2004 《包(bao)裝用鍍(du)鋁薄膜》
鍍鋁層厚度測試儀測試原理:
試(shi)樣金屬鍍(du)(du)層為一金屬導(dao)體(ti),根(gen)據歐姆(mu)定律測量規(gui)定長(chang)度(du)和寬度(du)的(de)(de)試(shi)樣的(de)(de)電(dian)阻(zu)值,計(ji)算其方塊電(dian)阻(zu)值,從而(er)得(de)出(chu)鍍(du)(du)層厚度(du)。
包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測儀
測試方法:
依據國家包裝(zhuang)產品質量(liang)監督檢驗中心(濟南(nan))起草的(de)《 GB/T 15717-1995真空金屬(shu)(shu)鍍(du)(du)層(ceng)厚(hou)(hou)度測(ce)試方(fang)法(fa)--電阻(zu)(zu)法(fa)》于1996年(nian)頒布,詳細介紹了(le)如(ru)何檢測(ce)絕緣(yuan)軟(ruan)基材表面的(de)真空金屬(shu)(shu)鍍(du)(du)層(ceng)厚(hou)(hou)度的(de)測(ce)試方(fang)法(fa)。電阻(zu)(zu)法(fa)檢測(ce)鍍(du)(du)鋁層(ceng)的(de)厚(hou)(hou)度用表面電阻(zu)(zu)來表示(shi),單位是Ω/□,數值越(yue)大說明鍍(du)(du)鋁層(ceng)厚(hou)(hou)度越(yue)薄,一般真空鍍(du)(du)鋁薄膜的(de)表面電阻(zu)(zu)值為1.0-2.5Ω/□。
主要參數
厚度測量范圍:厚度50-570?
方塊電阻測量范圍:0.5-10Ω
方塊電阻測量誤差:±1%
樣品尺寸:100×100mm
夾樣誤差:±0.1mm
測溫范圍:0~50℃,精度±1℃
外形尺寸:370mm×330mm×450mm (長寬高)
重量:19kg
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